數(shù)字電路專業(yè)綜合GCT考試考查要點(diǎn): 

1、邏輯代數(shù)基礎(chǔ)

基本內(nèi)容：數(shù)制、碼制及相互轉(zhuǎn)換，邏輯代數(shù)中的三種基本運(yùn)算、基本公式和基本定理，及其它常用公式；邏輯函數(shù)及其表示方法，邏輯函數(shù)的公式化簡法和卡諾圖化簡法；具有無關(guān)項(xiàng)的邏輯函數(shù)及其化簡。

基本要求：重點(diǎn)是邏輯代數(shù)中的三種基本運(yùn)算及其邏輯符號，邏輯代數(shù)的基本公式和基本定理，邏輯函數(shù)的公式化簡法和卡諾圖化簡法。

2、門電路

基本內(nèi)容：半導(dǎo)體二極管和三極管的開關(guān)特性，最簡單的與、或、非門電路，TTL門電路CMOS門電路的邏輯功能、外特性、主要參數(shù)；其他類型的MOS集成電路，TTL電路與CMOS電路的接口。

基本要求：重點(diǎn)是半導(dǎo)體三極管的飽和工作條件，TTL門電路CMOS門電路的邏輯功能、外特性、主要參數(shù)。會利用門電路的帶負(fù)載能力靈活計(jì)算電路參數(shù)。

3、組合邏輯電路

基本內(nèi)容：組合邏輯電路的分析方法和設(shè)計(jì)方法，常用組合邏輯電路的邏輯功能和使用方法，組合邏輯電路中的競爭—冒險(xiǎn)現(xiàn)象。

基本要求：重點(diǎn)是組合邏輯電路的分析方法和設(shè)計(jì)方法；并能夠用集成組合邏輯電路芯片設(shè)計(jì)組合邏輯電路；能夠分析組合邏輯電路中的競爭—冒險(xiǎn)現(xiàn)象。

4、觸發(fā)器

基本內(nèi)容：各類觸發(fā)器的電路結(jié)構(gòu)與動作特點(diǎn)，觸發(fā)器的邏輯功能及其描述方法。

基本要求：重點(diǎn)是觸發(fā)器的邏輯功能及其描述方法（特性方程、特性表、狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖和波形圖）和不同類型觸發(fā)器之間的相互轉(zhuǎn)換。

5、時(shí)序邏輯電路

基本內(nèi)容：時(shí)序邏輯電路的分析方法和設(shè)計(jì)方法，若干常用的時(shí)序邏輯電路，時(shí)序邏輯電路中的競爭—冒險(xiǎn)現(xiàn)象。

基本要求：重點(diǎn)是時(shí)序邏輯電路的分析方法和用集成計(jì)數(shù)器芯片設(shè)任意進(jìn)制的計(jì)數(shù)器。

6、脈沖波形的產(chǎn)生和整形。

基本內(nèi)容：施密特觸發(fā)器、單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器、多諧振蕩器、555定時(shí)器及其應(yīng)用。

基本要求：重點(diǎn)是555定時(shí)器及其應(yīng)用和施密特觸發(fā)器及其應(yīng)用。單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器和多諧振蕩器概念。能夠用集成器件設(shè)計(jì)電路。

7、數(shù)模和模數(shù)轉(zhuǎn)換。

基本內(nèi)容：A/D、D/A轉(zhuǎn)換器的性能指標(biāo)，A/D、D/A轉(zhuǎn)換器的工作原理和使用方法。

基本要求：重點(diǎn)是A/D、D/A的工作原理、使用方法和技術(shù)指標(biāo)。

考試總分： 100分     考試時(shí)間：2小時(shí)     考試方式： 筆試

考試題型（分?jǐn)?shù)）：一、簡答題（40～50分）；二、分析題（20～30分）；三、設(shè)計(jì)題（20～30分）

主要參考書：數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)（第五版）.北京：閻石.高等教育出版社，2006.05